理學(xué)ZSX Primus IV 順序掃描型 X 射線熒光光譜儀適用于固體、液體、粉末、合金以及薄膜上的元素分析,可快速定量測(cè)出從Be到U的元素。ZSX Primus III NEXT波長(zhǎng)色散型 X 射線熒光光譜儀可快速定量測(cè)定從Be到Cm的元素,采用了理學(xué)獨(dú)特的光路結(jié)構(gòu),適用于工業(yè)質(zhì)量控制。

采用 30 微米超薄窗光管,信號(hào)強(qiáng)度出類拔萃
X 光管上照射方式,從根本上避免粉塵對(duì)光管 Be 窗膜的污染
多達(dá) 15 種晶體可選 , 可實(shí)現(xiàn) 4Be-96Cm 元素的分析
標(biāo)配 R-θ 可移動(dòng)樣品臺(tái),大幅提高超小樣品分析和 MAPPING 分析的靈敏度
可選 12、24、36、48 和 96 位自動(dòng)進(jìn)樣器
可自動(dòng)建立工作曲線,讓初學(xué)者也能輕松完成工作曲線的建立
全新 SQX 無標(biāo)樣分析軟件,1 分鐘內(nèi)完成全元素掃描分析
可選散射線 FP 法功能,讓復(fù)雜基體分析變得更準(zhǔn)確
可選自動(dòng)化操作軟件,讓儀器使用更輕松
可接入智能化實(shí)驗(yàn)室,實(shí)現(xiàn)無人值守分析

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