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使用SPECIM FX17推掃式高光譜成像系統(tǒng),可以及時(shí)檢測(cè)涂層整個(gè)膜厚,在每條線掃描數(shù)據(jù)中,光譜數(shù)據(jù)能覆蓋整個(gè)涂層的厚度,有助于監(jiān)測(cè)保護(hù)涂層厚度及其分布均勻性。
4月28日,佛山翁開爾將舉行直播,本次直播將帶你更深入了解紫外老化箱和氙燈試驗(yàn)箱的技術(shù)差異與應(yīng)用場(chǎng)景。
ZEM臺(tái)式掃描電鏡在換熱器用無縫鈦管失效分析的應(yīng)用
使用BOYI材料試驗(yàn)機(jī)對(duì)鎳基高溫合金DZ22進(jìn)行高溫拉伸試驗(yàn),滿足GB/T228.2-2015金屬材料拉伸試驗(yàn)要求。
SPECIM高光譜相機(jī)在農(nóng)田精準(zhǔn)施肥中的應(yīng)用,主要基于其對(duì)作物養(yǎng)分狀態(tài)和土壤條件的實(shí)時(shí)、非破壞性監(jiān)測(cè)能力,通過分析光譜信息指導(dǎo)變量施肥,實(shí)現(xiàn)資源高效利用和產(chǎn)量?jī)?yōu)化。
祝武漢翁開爾喬遷大吉!
發(fā)布于: 2025/4/18 17:48:08764
4月18日,武漢翁開爾公司喬遷儀式隆重舉行。
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡選型建議
發(fā)布于: 2025/4/18 15:58:10813
本文介紹ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡不同型號(hào)各自的優(yōu)勢(shì),用戶可根據(jù)自己的測(cè)試需要選擇合適的型號(hào)。
ZEM臺(tái)式掃描電鏡在芯片微觀形貌以及成分分布分析的應(yīng)用
臺(tái)式掃描電子顯微鏡在涂層劣化研究中的應(yīng)用
析塔SITA FoamTester泡沫測(cè)試儀測(cè)量參數(shù)介紹

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